[...] Tubos de descarga provistos de medios que permiten la introducción de objetos o de un material para ser expuestos a la descarga, p. ej. con el propósito de sufrir un examen o tratamiento (H01J 33/00, H01J 40/00, H01J 41/00, H01J 47/00, H01J 49/00 tienen prioridad; investigación o análisis de la estructura a escala atómica de una superficie utilizando técnicas de barrido con sonda G01N 13/10; ensayos sin contacto de circuitos electrónicos mediante haces electrónicos G01R 31/305; detalles de aparatos con sonda de barrido, en general G12B 21/00). H01J 37/00' de la CIP.

SECCION H — ELECTRICIDAD > ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS > TUBOS DE DESCARGA ELECTRICA O LAMPARAS DE DESCARGA ELECTRICA (espinterómetros H01T; lámparas de arco, con electrodos consumibles H05B; aceleradores de partículas H05H) > Tubos de descarga provistos de medios que permiten la introducción de objetos o de un material para ser expuestos a la descarga, p. ej. con el propósito de sufrir un examen o tratamiento (H01J 33/00, H01J 40/00, H01J 41/00, H01J 47/00, H01J 49/00 tienen prioridad; investigación o análisis de la estructura a escala atómica de una superficie utilizando técnicas de barrido con sonda G01N 13/10; ensayos sin contacto de circuitos electrónicos mediante haces electrónicos G01R 31/305; detalles de aparatos con sonda de barrido, en general G12B 21/00)

  • Detalles.
  • Disposiciones de electrodos y partes asociadas para generar o controlar la descarga, p. ej. dispositivo electronóptico, dispositivo ionóptico.
  • Fuentes de electrones; Cañones electrónicos.
  • Fuente de iones; Cañón iónico.
  • Diafragmas; Pantallas asociadas a los dispositivos electronópticos o ionópticos; Compensación de campos perturbadores.
  • Lentes.
  • Disposiciones para dirigir o desviar la descarga a lo largo de una trayectoria determinada (lentes H01J 37/10).
  • Medios para soportar o colocar el objeto o el material; Medios para ajustar diafragmas o lentes asociadas al soporte (preparación de muestras para análisis G01N 1/28).
  • Dispositivos ópticos o fotográficos asociados al tubo.
  • Detectores; Componentes o circuitos asociados.
  • Tubos analizadores de manchas por haces electrónicos o iónicos; Microanalizadores (investigación o análisis con estos equipos G01N 23/22).
  • Microscopios electrónicos o iónicos; Tubos de difracción de electrones o de iones.
  • con haces de barrido (microanalizadores que utilizan haces de barrido H01J 37/256).
  • Tubos de haz electrónico o iónico para tratamientos localizados de objetos.
  • para colar, fundir, evaporar o decapar.
  • para cortar o perforar.
  • para soldar.
  • para modificar las propiedades de objetos o para aplicarles revestimientos de capa delgada, p. ej. implantación de iones (H01J 37/36 tiene prioridad).
  • Tubos de descarga en atmósfera gaseosa (calefacción por descarga H05B).
  • Dispositivos electronópticos o ionópticos para la separación de electrones o de iones en función de su energía (tubos separadores de partículas H01J 49/00).
  • Disposición geométrica de electrodos para la formación del haz.
  • Montaje de cañones o de sus elementos constitutivos (H01J 37/067 - H01J 37/077 tienen prioridad).
  • Elementos de recambio de cañones; Ajuste mutuo de electrodos (H01J 37/073 - H01J 37/077 tienen prioridad; cierres estancos H01J 37/18).
  • Eliminación de efectos nocivos debidos a efectos térmicos o a campos eléctricos o magnéticos (H01J 37/073 - H01J 37/077 tienen prioridad).
  • Cañones de electrones que utilizan fuentes de electrones de emisión por efecto del campo, de fotoemisión secundaria.
  • Cañones de electrones que utilizan la emisión termoiónica de cátodos calentados por bombardeo de partículas o por irradiación, p. ej. por láser.
  • Cañones de electrones que utilizan como fuentes de electrones una descarga en gas o en vapor.
  • electrostáticas.
  • magnéticas.
  • Lentes electromagnéticas.
  • Lentes magnéticas permanentes.
  • Combinaciones de lentes electrostáticas y magnéticas.
  • Ajuste mecánico externo de componentes electronópticos o ionópticos (H01J 37/067, H01J 37/20 tienen prioridad).
  • Disposiciones electronópticas o ionópticas para la corrección de defectos de imágenes, p. ej. estigmadores.
  • Tubos o ampollas; Recipientes.
  • Cierres estancos.
  • Medios para ajustar el foco.
  • Circuitos no adaptados a una aplicación particular del tubo y no previsto en otro lugar.
  • Componentes asociados con la alimentación a alta tensión (alimentación a alta tensión en general H02J, H02M).
  • que utilizan haces de barrido.
  • Microscopio de máscara.
  • Microscopios de emisión, p. ej. microscopios de emisión de campo.
  • Microscopios de reflexión.
  • Tubos de difracción electrónica o iónica.
  • Dispositivos que permiten a los haces pasar de una región a otra de presión diferente.
  • Control de tubos por una información de origen externo, p. ej. control por programa (H01J 37/304 tiene prioridad).
  • Control de tubos por una información que proviene de objetos, p. ej. señales de corrección.
  • que funcionan por pulverización catódica (H01J 37/36 tiene prioridad).
  • para limpiar superficies durante el depósito de iones que provienen de materiales introducidos durante la descarga, p. ej. introducidos por evaporación.