Sistema para detección de microcortes
ES 2530422 B1
P 201300811 ( 2 )
28-08-2013
02-03-2015
G01R 31/28 ( 2006.01)
Sistema para detección de microcortes
FUNDACIÓN PARA LA PROMOCIÓN DE LA INNOV., INV. Y DESARROLLO TECNOLÓGICO EN LA INDUSTRIA DE AUTOMOCIÓN DE GALICÍA (100,0%)
O porriño (Pontevedra) ES
Fecha de concesión: 04-12-2015
Sistema para detección de microcortes caracterizado porque comprende un acondicionador de señal (2), un adquisidor (3) con al menos un amplificador de instrumentación (21) cuya entrada inversora y no inversora están conectadas eléctricamente con los terminales de una muestra (10) por la que circula una intensidad corriente I, con dicha muestra (10) susceptible de experimentar temporalmente variaciones en el valor de su resistencia R0, con la salida del amplificador de instrumentación (21) conectada eléctricamente con la entrada del adquisidor (3), produciendo que la resolución del sistema aumente cuando la duración de la variación del valor de la resistencia R0 es superior a un umbral temporal de detección que es función de la frecuencia de muestreo del adquisidor (3).
Jerarquías de la CIP 2006:- G SECCION G — FISICA.
- G01 METROLOGÍA (cómputo G06M ); ENSAYOS.
- G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (medida de variables físicas de cualquier tipo por conversión en variables eléctricas, ver la Nota (4); que sigue al título de la clase G01; medida de la difusión de iones en un campo eléctrico, p. ej. electroforesis, electroósmosis, G01N; estudio de las propiedades no eléctricas o no magnéticas de los materiales utilizando métodos eléctricos o magnéticos G01N; indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12; monitorización de los contadores de impulsos electrónicos H03K 21/40; monitorización del funcionamiento de sistemas de transmisión H04).
- G01R 31/00 Dispositivos para verificar propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizados por lo que es probado, no previstos en otro lugar (conductores para medida, sondas para medida G01R 1/06; indicación del estado eléctrico de los dispositivos de conmutación o protección H01H 71/04, H01H 73/12, H02B 11/10, H02H 3/04; ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; Ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46).
- G01R 31/28 Ensayo de circuitos electrónicos, p. ej. con la ayuda de un trazador de señales (ensayo para descubrir la presencia de cortocircuitos, de discontinuidades, de fugas o de conexiones incorrectas de líneas G01R 31/02; ensayos de computadores G06F 11/00; comprobación del funcionamiento correcto de memorias estáticas o ensayo de memorias estáticas mientras operan en modo "standby" o "offline" G11C 29/00).
Otras apariciones publicadas en el BOPI:
- Tomo 2 del 25 de Marzo de 2014 1. patentes > Tramitación > Hasta la publicación del iet (art. 34.5 lp) > Defectos en el examen formal y técnico (art. 18.1 rp)
- Tomo 2 del 10 de Junio de 2014 1. patentes > Tramitación > Hasta la publicación del iet (art. 34.5 lp) > Defectos en el examen formal y técnico (art. 18.1 rp)
- Tomo 2 del 18 de Agosto de 2014 1. patentes > Tramitación > Hasta la publicación del iet (art. 34.5 lp) > Continuación de procedimiento (art. 31.5 lp)
- Tomo 2 del 02 de Marzo de 2015 1. patentes > Tramitación > Hasta la publicación del iet (art. 34.5 lp) > Publicación de la solicitud (art. 32.1 lp)
- Tomo 2 del 02 de Marzo de 2015 1. patentes > Tramitación > Hasta la publicación del iet (art. 34.5 lp) > Publicacion del informe sobre el estado de la tecnica (art. 34.5 lp)
- Tomo 2 del 23 de Junio de 2015 1. patentes > Tramitación > Procedimiento general de concesión > Reanudación procedimiento general de concesión (art. 36.3 lp)
- Tomo 2 del 15 de Septiembre de 2015 1. patentes > Tramitación > Procedimiento general de concesión > Traslado de observaciones al informe sobre el estado de la técnica (art. 36.2 lp)