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DISPOSITIVO FOTÓNICO SENSOR, MÉTODO DE ANÁLISIS DE MUESTRAS QUE HACE USO DEL MISMO Y USOS DE DICHO DISPOSITIVO

DISPOSITIVO FOTÓNICO SENSOR, MÉTODO DE ANÁLISIS DE MUESTRAS QUE HACE USO DEL MISMO...

ES 2636713 B2

P 201631544 ( X )

02/12/2016

06/10/2017

G02B 6/12 (2006.01)

G01N 21/17 (2006.01)

G01N 21/64 (2006.01)

DISPOSITIVO FOTÓNICO SENSOR, MÉTODO DE ANÁLISIS DE MUESTRAS QUE HACE USO DEL MISMO Y USOS DE DICHO DISPOSITIVO

Universitat Politècnica de València (100,0%)
Valencia (Valencia) ES
Código Postal: 46022

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Fecha de concesión: 10/05/2018

Dispositivo fotónico sensor, método de análisis de muestras que hace uso del mismo y usos de dicho dispositivo.
Se describen en este documento un dispositivo sensor y un método de análisis de muestras que hace uso dicho dispositivo, basándose ambos en el uso de una sub-agrupación de guías que se usa como referencia junto con otra sub-agrupación de guías que presenta una serie de ventanas definidas en las guías de onda de tal manera que se dan variaciones en el campo de evanescencia de cada porción de las guías de onda de la ventana, o de las ventanas en el caso de formaciones de ventanas, que está en contacto óptico mediante la ventana con una porción de la muestra a analizar. Las mediciones de dichas variaciones con respecto a una medida de referencia que se toma de la sub-agrupación de referencia permiten determinar y cuantificar el analito de la muestra.

Jerarquías de la CIP 2006:
  • G SECCION G — FISICA.
  • G01 METROLOGÍA (cómputo G06M ); ENSAYOS.
  • G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (separación de constituyentes de materiales en general B01D, B01J, B03, B07; aparatos enteramente previstos en una sola subclase, ver la subclase apropiada, p. ej. B01L; procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q; estudio de los suelos de cimentación in situ E02D 1/00; dispositivos de control o diagnóstico para los aparatos de tratamiento de gases de escape F01N 11/00; percepción de variaciones de humedad para compensar las medidas de otras variables o las lecturas de instrumentos que miden las variaciones de la humedad, ver G01D o la subclase apropiada a la variable medida; ensayo o determinación de las propiedades de estructuras G01M; medida o investigación de las propiedades eléctricas o magnéticas de materiales G01R; sistemas en general para determinar la distancia, la velocidad o la presencia utilizando efectos de propagación, p. ej. el efecto Doppler, el tiempo de propagación de ondas de radio reflejadas o reradiadas, u otras disposiciones analogas que utilicen otras ondas G01S; determinación de la sensibilidad, de la granularidad o de la densidad de materiales fotográficos G03C 5/02; ensayo de elementos que componen los reactores nucleares G21C 17/00).
  • G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad; medida de tensiones en general G01L 1/00; elementos ópticos de instrumentos de medida G02B; análisis de imágenes mediante el tratamiento de datos G06T).
  • G01N 21/17 Sistemas en los que la luz incidente es modificada con arreglo a las propiedades del material examinado (en los que el material examinado es ópticamente excitado para producir un cambio de la longitud de onda de la luz incidente G01N 21/63).
  • G01N 21/64 Fluorescencia; Fosforescencia.
  • G02 OPTICA (fabricación de elementos o de aparatos ópticos B24B, B29D 11/00, C03, u otras subclases o clases apropiadas; materiales en sí , ver los lugares apropiados, p. ej. C03B, C03C).
  • G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para colgar las dispositivas, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84).
  • G02B 6/00 Guías de luz; Detalles de estructura de las disposiciones que comprenden guías de luz y otros elementos ópticos, p. ej. medios de acoplamiento.
  • G02B 6/12 del género de circuito integrado (producción o tratamiento de monocristales C30B; circuitos integrados eléctricos H01L 27/00).

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SISTEMA Y MÉTODO DE PROTECCIÓN ANTE FALTAS INTERNAS EN MÁQUINAS DE INDUCCIÓN DE ROTOR BOBINADO

SISTEMA Y MÉTODO DE PROTECCIÓN ANTE FALTAS INTERNAS EN MÁQUINAS DE INDUCCIÓN...

ES 2639811 B2

P 201730202 ( 3 )

20/02/2017

30/10/2017

H02K 17/22 (2006.01)

H02P 9/00 (2006.01)

SISTEMA Y MÉTODO DE PROTECCIÓN ANTE FALTAS INTERNAS EN MÁQUINAS DE INDUCCIÓN DE ROTOR BOBINADO

UNIVERSIDAD POLITÉCNICA DE MADRID (100,0%)
Madrid (Madrid) ES
Código Postal: 28040

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Fecha de concesión: 10/05/2018

Sistema y método de protección ante faltas internas en máquinas de inducción de rotor bobinado.
La presente invención puede detectar faltas internas en sistemas, tanto si el cortocircuito se produce en el estátor como en el rotor de una máquina de inducción de rotor bobinado (2).
Se utiliza como indicador de los defectos, la onda de corriente diferencial calculada como resultado de la comparación de las corrientes medidas en el estátor (9) y en el rotor (10), tras la aplicación de diferentes factores correctores (11) y la transformada de Park (12) y (13).
La amplitud de dicha corriente diferencial, permite distinguir entre defectos internos a la máquina y externos a la misma.

Jerarquías de la CIP 2006:
  • H SECCION H — ELECTRICIDAD.
  • H02 PRODUCCION, CONVERSION O DISTRIBUCION DE LA ENERGIA ELECTRICA.
  • H02K MAQUINAS DINAMOELECTRICAS (instrumentos de medida G01; relés dinamoeléctricos H01H 53/00; transformación de una potencia de entrada en corriente continua o alterna en una potencia de salida de choque H02M 9/00; altavoces, micrófonos, cabezas de lectura para gramófonos o transductores electromecánicos análogos H04R).
  • H02K 17/00 Motores de inducción asíncronos; Generadores de inducción asíncronos.
  • H02K 17/22 teniendo rotor con arrollamientos conectados a los anillos colectores.
  • H02P CONTROL O REGULACION DE MOTORES, GENERADORES ELECTRICOS, O CONVERTIDORES DINAMOELECTRICOS; CONTROL DE TRANSFORMADORES, REACTANCIAS O BOBINAS DE CHOQUE (estructura de los aparatos de arranque, frenos, u otros dispositivos de control, ver las subclases apropiadas, p. ej. frenos mecánicos F16D, reguladores mecánicos de velocidad G05D, resistencias variables H01C, interruptores de arranque H01H; sistemas de regulación de variables eléctricas o magnéticas que utilizan transformadores, reactancias o bobinas de choque G05F; disposiciones estructuralmente asociadas a los motores, generadores, convertidores dinamoeléctricos, transformadores, reactancias o bobinas de choque, ver las subclases apropiadas, p. ej. H01F, H02K; conexión o control de un generador, transformador, reactancia, bobina de choque, o convertidor dinamoeléctrico teniendo en cuenta su asociación funcional con una fuente similar u otra fuente de alimentación H02J; control o regulación de convertidores estáticos H02M).
  • H02P 9/00 Disposiciones para el control de generadores eléctricos con el propósito de obtener las características deseadas en la salida (montajes Ward-Leonard H02P 7/34; control vectorial H02P 21/00; alimentación de una red por varios generadores H02J; para la carga de baterías H02J 7/14).

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PROCEDIMIENTO DE HILADO Y/O TORCIDO DE HILOS Y MÁQUINA DE HILADO Y/O TORCIDO DE HILOS, MEJORADOS

PROCEDIMIENTO DE HILADO Y/O TORCIDO DE HILOS Y MÁQUINA DE HILADO Y/O TORCIDO DE...

ES 2621879 B2

P 201730352 ( 6 )

16/03/2017

05/07/2017

D01H 1/10 (2006.01)

D01H 7/86 (2006.01)

PROCEDIMIENTO DE HILADO Y/O TORCIDO DE HILOS Y MÁQUINA DE HILADO Y/O TORCIDO DE HILOS, MEJORADOS

P201631732 30/12/2016

TWISTPERFECT, S.L. (50,0%)
C/ RAMON LLULL, 61 C/ DE DALT, 20
TERRASSA VILADECAVALLS (Barcelona) (Barcelona) ES ES
Código Postal: 08224
Código Postal: 08232

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Fecha de concesión: 10/05/2018

Aceptada la modificación de reivindicaciones aportadas en fecha 29/03/2018

Mejoras introducidas en la patente principal nº 201631732 que tiene por título "procedimiento de hilado y/o torcido de hilos y máquina de hilado y/o torcido de hilos", donde un hilo transcurre entre un medio de alimentación de hilo (1) y un medio recogedor de hilo, estando dicho medio de recogida de hilo vinculado a unos medios motores, generándose una región de balón en un punto situado entre el medio de alimentación (1) y el medio de recogida por la presencia de unos medios de torsión, siendo el valor de velocidad de giro del medio de torsión de hilo. Se genera una trayectoria helicoidal del hilo con diámetros de espiral oscilantes a lo largo de la distancia existente entre el medio de alimentación (1) y el medio recogedor de hilo, tal que la trayectoria del hilo crea un cuerpo de revolución a partir de un diámetro generador de balón con múltiples estructuras hiperboloide (E) que forman múltiples regiones de balón (B).

Jerarquías de la CIP 2006:
  • D SECCIÓN D — TEXTILES; PAPEL.
  • D01 FIBRAS O HILOS NATURALES O ARTIFICIALES; HILATURA (hilos metálicos B21; fibras o filamentos de vidrio, lana mineral o de escorias C03B 37/00; hilos D02).
  • D01H HILATURA O RETORCIDO (devanado, desenrollado, accionamiento, bobinado o enrollamiento de materiales filamentosos no asociados expresamente a la hilatura o al retorcido B65H; núcleos-soportes, gálibos de formación, soportes para enrollamiento, p. ej. bobinas, B65H; retorcido de la estopa D01G 35/00; rizado u ondulaciones de fibras, filamentos o hilos D02G 1/00; producción de chenillas D03D, D04D 3/00; ensayos de hilos, mechas, cintas, fibras o velos de fibras G01).
  • D01H 1/00 Máquinas de hilar o retorcer en las cuales el enrollamiento del hilo se efectúa en continuo (máquinas de hilar de cabo abierto D01H 4/00).
  • D01H 1/10 para conferir una torsión múltiple, p. ej. retorcido de doble torsión.
  • D01H 7/00 Dispositivos para la hilatura o el retorcido (para la hilatura de cabo abierto D01H 4/00).
  • D01H 7/86 Dispositivos de torsión múltiple, p. ej. dispositivos de retorcido con doble torsión dos para uno.

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