[...] Espectrometría; Espectrofotometría; Monocromadores; Medida del color. 4 Patentes registradas en la sección 'G01J 3/00' de la CIP.

SECCION G — FISICA > METROLOGÍA (cómputo G06M ); ENSAYOS > MEDIDA DE LA INTENSIDAD, DE LA VELOCIDAD, DEL ESPECTRO, DE LA POLARIZACION, DE LA FASE O DE CARACTERISTICAS DE IMPULSOS DE LA LUZ INFRARROJA, VISIBLE O ULTRAVIOLETA; COLORIMETRIA; PIROMETRIA DE RADIACIONES (fuentes luminosas F21, H01J, H01K, H05B; investigación de las propiedades de los materiales por medios ópticos G01N) > Espectrometría; Espectrofotometría; Monocromadores; Medida del color

  1. Aparato y procedimiento para la concentración de partículas de ensayo
  2. DISPOSITIVO Y SISTEMA DE MEDIDA ÓPTICA DEL COEFICIENTE DE REFLEXIÓN DE UNA SUPERFICIE
  3. Aparato y método para realizar un ensayo utilizando partículas magnéticas
  4. DISPOSITIVO Y SISTEMA DE MEDIDA ÓPTICA DEL COEFICIENTE DE REFLEXIÓN DE UNA SUPERFICIE

Aparato y procedimiento para la concentración de partículas de ensayo

Tomo 2 de Patentes y modelos de utilidad. de 16 de Enero de 2018.

5. solicitudes y patentes europeas con efectos en españa (real decreto 2424/1986) > Protección definitiva > Protección definitiva (capítulo v rd 2424/1986).

ES 2649986 T3

E 13164976 ( 6 )

24/07/2006 05/04/2007 05/04/2007 US US US 832921 P 910246 P 910256 P

G01N 33/543 (2006.01)

G01N 35/00 (2006.01)

C12N 15/10 (2006.01)

G01J 3/00 (2006.01)

G01J 3/44 (2006.01)

G01N 21/65 (2006.01)

G01N 15/00 (2006.01)

G01N 1/40 (2006.01)

B82Y 25/00 (2011.01)

B82Y 15/00 (2011.01)

B01L 3/00 (2006.01)

Aparato y procedimiento para la concentración de partículas de ensayo

Becton Dickinson and Company (100,0%)

Mostrar.

E13164976 24/07/2007

EP2620771 30/08/2017

[+]

DISPOSITIVO Y SISTEMA DE MEDIDA ÓPTICA DEL COEFICIENTE DE REFLEXIÓN DE UNA SUPERFICIE

Tomo 2 de Patentes y modelos de utilidad. de 05 de Septiembre de 2017.

1. patentes > Resolución > Concesión > Concesión sin examen previo (art. 37.3 lp).

DISPOSITIVO Y SISTEMA DE MEDIDA ÓPTICA DEL COEFICIENTE DE REFLEXIÓN DE UNA SUPERFICIE

ES 2603650 B1

P 201531138 ( 6 )

30/07/2015

28/02/2017

F24J 2/14 (2006.01)

G01J 3/00 (2006.01)

G01N 21/55 (2014.01)

DISPOSITIVO Y SISTEMA DE MEDIDA ÓPTICA DEL COEFICIENTE DE REFLEXIÓN DE UNA SUPERFICIE

ABENGOA SOLAR NEW TECHNOLOGIES, S.A. (100,0%)
SEVILLA (Sevilla) ES
Código Postal: 41014

Mostrar.

Fecha de concesión: 29/08/2017

Dispositivo y sistema de medida óptica del coeficiente de reflexión de una superficie.
La presente invención se refiere a un novedoso dispositivo de medida óptica del coeficiente de reflexión de una superficie (1), que comprende: uno o más canales ópticos, donde cada canal comprende una pluralidad de LEDs (2) para la emisión de un haz de iluminación en una o más longitudes de onda; un primer fotodetector (4)para la medición del haz de iluminación directa de los LEDs en el canal óptico; un diafragma (5) situado a la salida del canal óptico de iluminación, para limitar la apertura de salida del haz de iluminación; una lente (6) dispuesta para recibir el haz reflejado en la superficie (1) y para focalizar dicho haz; y un segundo fotodetector (8) para medir la señal del haz de iluminación reflejado por la superficie (1) a medir. El dispositivo de la invención es capaz de minimizar la cantidad de luz difusa presente en la medida sin perder una tolerancia intrínseca alta de la medida frente a diferentes curvaturas y diferentes espesores de espejos, sin necesidad de realizar ningún ajuste adicional en dicho dispositivo.

Otras apariciones publicadas en el BOPI:

[+]

Aparato y método para realizar un ensayo utilizando partículas magnéticas

Tomo 2 de Patentes y modelos de utilidad. de 15 de Junio de 2017.

5. solicitudes y patentes europeas con efectos en españa (real decreto 2424/1986) > Protección definitiva > Patentes modificadas tras oposición (art. 7 rd 2424/1986).

ES 2422295 T5

E 07799772 ( 4 )

24/07/2006 05/04/2007 05/04/2007 US US US 832921 P 910246 P 910256 P

G01N 33/543 (2006.01)

G01N 35/00 (2006.01)

C12N 15/10 (2006.01)

G01J 3/00 (2006.01)

G01J 3/44 (2006.01)

G01N 21/65 (2006.01)

B82Y 15/00 (2011.01)

B82Y 25/00 (2011.01)

G01N 1/40 (2006.01)

Aparato y método para realizar un ensayo utilizando partículas magnéticas

Becton Dickinson and Company (100,0%)

Mostrar.

E07799772 24/07/2007

EP2044402 30/11/2016

Otras apariciones publicadas en el BOPI: Tomo 2 del 10 de Septiembre de 2013 5. solicitudes y patentes europeas con efectos en españa (real decreto 2424/1986) > Protección definitiva > Protección definitiva (capítulo v rd 2424/1986).

[+]

DISPOSITIVO Y SISTEMA DE MEDIDA ÓPTICA DEL COEFICIENTE DE REFLEXIÓN DE UNA SUPERFICIE

Tomo 2 de Patentes y modelos de utilidad. de 28 de Febrero de 2017.

1. patentes > Tramitación > Hasta la publicación del iet (art. 34.5 lp) > Publicación de la solicitud (art. 32.1 lp).

DISPOSITIVO Y SISTEMA DE MEDIDA ÓPTICA DEL COEFICIENTE DE REFLEXIÓN DE UNA SUPERFICIE

ES 2603650 A1

P 201531138 ( 6 )

30/07/2015

F24J 2/14 (2006.01)

G01J 3/00 (2006.01)

G01N 21/55 (2014.01)

DISPOSITIVO Y SISTEMA DE MEDIDA ÓPTICA DEL COEFICIENTE DE REFLEXIÓN DE UNA SUPERFICIE

ABENGOA SOLAR NEW TECHNOLOGIES, S.A. (100,0%)

Mostrar.

Se remite a la solicitud internacional PCT/ES2016/070531

Dispositivo y sistema de medida óptica del coeficiente de reflexión de una superficie.
La presente invención se refiere a un novedoso dispositivo de medida óptica del coeficiente de reflexión de una superficie (1), que comprende: uno o más canales ópticos, donde cada canal comprende una pluralidad de LEDs (2) para la emisión de un haz de iluminación en una o más longitudes de onda; un primer fotodetector (4)para la medición del haz de iluminación directa de los LEDs en el canal óptico; un diafragma (5) situado a la salida del canal óptico de iluminación, para limitar la apertura de salida del haz de iluminación; una lente (6) dispuesta para recibir el haz reflejado en la superficie (1) y para focalizar dicho haz; y un segundo fotodetector (8) para medir la señal del haz de iluminación reflejado por la superficie (1) a medir. El dispositivo de la invención es capaz de minimizar la cantidad de luz difusa presente en la medida sin perder una tolerancia intrínseca alta de la medida frente a diferentes curvaturas y diferentes espesores de espejos, sin necesidad de realizar ningún ajuste adicional en dicho dispositivo.

Otras apariciones publicadas en el BOPI:

[+]