[...] Medida del desfase de rayos luminosos (dispositivos o sistemas para el control de la fase de rayos luminosos G02F 1/01 ); Investigación del grado de coherencia; Medida óptica de la longitud de onda (espectrometría G01J 3/00). 7 Patentes registradas en la sección 'G01J 9/00' de la CIP.

SECCION G — FISICA > METROLOGÍA (cómputo G06M ); ENSAYOS > MEDIDA DE LA INTENSIDAD, DE LA VELOCIDAD, DEL ESPECTRO, DE LA POLARIZACION, DE LA FASE O DE CARACTERISTICAS DE IMPULSOS DE LA LUZ INFRARROJA, VISIBLE O ULTRAVIOLETA; COLORIMETRIA; PIROMETRIA DE RADIACIONES (fuentes luminosas F21, H01J, H01K, H05B; investigación de las propiedades de los materiales por medios ópticos G01N) > Medida del desfase de rayos luminosos (dispositivos o sistemas para el control de la fase de rayos luminosos G02F 1/01 ); Investigación del grado de coherencia; Medida óptica de la longitud de onda (espectrometría G01J 3/00)

  1. MICROSCOPIO PARA MEDIDAS CUANTITATIVAS DEL FRENTE DE ONDA, MÓDULO Y KIT PARA MICROSCOPIO,...
  2. Sensor Shack Hartmann con matriz de microlentes extraíble
  3. Instrumento de ondas aéreas para la medición de perturbaciones del frente de ondas...
  4. Procedimiento y dispositivo para el examen de distorsiones del frente de onda dinámicas...
  5. Instrumento de mapeo de características ópticas
  6. Dispositivo de control de la fase de un frente de onda óptico
  7. Dispositivo y procedimiento de medida de frente de onda

MICROSCOPIO PARA MEDIDAS CUANTITATIVAS DEL FRENTE DE ONDA, MÓDULO Y KIT PARA MICROSCOPIO, MÉTODO Y PROGRAMA DE ORDENADOR PARA LA RECONSTRUCCIÓN COMPUTACIONAL DEL FRENTE DE ONDA

Tomo 2 de Patentes y modelos de utilidad. de 17 de Agosto de 2020.

1. patentes > Tramitación > Hasta la publicación del iet > Publicación de la solicitud (art. 37 lp).

MICROSCOPIO PARA MEDIDAS CUANTITATIVAS DEL FRENTE DE ONDA, MÓDULO Y KIT PARA MICROSCOPIO,...

ES 2779500 A1

P 201930116 ( 4 )

15/02/2019

G01J 9/00 (2006.01)

G02B 21/36 (2006.01)

MICROSCOPIO PARA MEDIDAS CUANTITATIVAS DEL FRENTE DE ONDA, MÓDULO Y KIT PARA MICROSCOPIO, MÉTODO Y PROGRAMA DE ORDENADOR PARA LA RECONSTRUCCIÓN COMPUTACIONAL DEL FRENTE DE ONDA

UNIVERSITAT DE VALÈNCIA (100,0%)

N/D.

La presente invención concierne a un microscopio para medidas cuantitativas del frente de onda, que comprende:
- medios para iluminar una muestra (T);
- un objetivo (2);
- una disposición bidimensional ordenada de lentes (3) con un espaciado p μ superior a 500 μm y una apertura relativa inferior a 10;
- un sensor de imagen (4) situado en un espacio de captura (Ec) para recibir la luz dispersada por la muestra (T), y adquirir información espacial e información angular del frente de onda objeto asociado a la misma; y
- una entidad computacional para realizar una reconstrucción computacional del frente de onda objeto a partir de las informaciones espacial y angular.
Otros aspectos dela invención conciernen a un método, un programa de ordenador y un producto que lo incluye, adaptados para realizar las funciones de la entidad computacional del microscopio, así como a un módulo y un kit para microscopio.

La presente invención concierne a un microscopio para medidas cuantitativas del frente de onda, que comprende:
- medios para iluminar una muestra (T);
- un objetivo (2);
- una disposición bidimensional ordenada de lentes (3) con un espaciado p μ superior a 500 μm y una apertura relativa inferior a 10;
- un sensor de imagen (4) situado en un espacio de captura (Ec) para recibir la luz dispersada por la muestra (T), y adquirir información espacial e información angular del frente de onda objeto asociado a la misma; y
- una entidad computacional para realizar una reconstrucción computacional del frente de onda objeto a partir de las informaciones espacial y angular.
Otros aspectos dela invención conciernen a un método, un programa de ordenador y un producto que lo incluye, adaptados para realizar las funciones de la entidad computacional del microscopio, así como a un módulo y un kit para microscopio.

Otras apariciones publicadas en el BOPI: Tomo 2 del 17 de Agosto de 2020 1. patentes > Tramitación > Hasta la publicación del iet > Publicación del informe sobre el estado de la técnica (art. 37 lp).

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Sensor Shack Hartmann con matriz de microlentes extraíble

Tomo 2 de Patentes y modelos de utilidad. de 23 de Julio de 2019.

5. solicitudes y patentes europeas con efectos en españa (real decreto 2424/1986) > Protección definitiva > Protección definitiva (capítulo v rd 2424/1986).

ES 2720631 T3

E 10739756 ( 4 )

20/07/2009 US 226821 P

G01J 9/00 (2006.01)

Sensor Shack Hartmann con matriz de microlentes extraíble

THORLABS, INC. (100,0%)

N/D.

PCT/US2010/042558 20/07/2010

WO11011385 28/04/2011

E10739756 20/07/2010

EP2457072 23/01/2019

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Instrumento de ondas aéreas para la medición de perturbaciones del frente de ondas ópticas en el flujo de aire alrededor de sistemas de aeronaves

Tomo 2 de Patentes y modelos de utilidad. de 23 de Abril de 2018.

5. solicitudes y patentes europeas con efectos en españa (real decreto 2424/1986) > Protección definitiva > Protección definitiva (capítulo v rd 2424/1986).

ES 2664833 T3

E 15184907 ( 2 )

30/09/2014 US 201414502015

B64C 30/00 (2006.01)

G01C 19/04 (2006.01)

G01S 3/786 (2006.01)

G02B 7/182 (2006.01)

G02B 23/08 (2006.01)

G02B 26/10 (2006.01)

H04N 7/18 (2006.01)

G01M 9/06 (2006.01)

G01J 9/00 (2006.01)

G02B 17/06 (2006.01)

Instrumento de ondas aéreas para la medición de perturbaciones del frente de ondas ópticas en el flujo de aire alrededor de sistemas de aeronaves

The Boeing Company (100,0%)

N/D.

E15184907 11/09/2015

EP3043164 03/01/2018

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Procedimiento y dispositivo para el examen de distorsiones del frente de onda dinámicas de un sistema láser

Tomo 2 de Patentes y modelos de utilidad. de 02 de Noviembre de 2017.

5. solicitudes y patentes europeas con efectos en españa (real decreto 2424/1986) > Protección definitiva > Protección definitiva (capítulo v rd 2424/1986).

ES 2640248 T3

E 09756255 ( 7 )

G01J 1/42 (2006.01)

G01J 9/00 (2006.01)

B23K 26/06 (2014.01)

B23K 26/08 (2014.01)

Procedimiento y dispositivo para el examen de distorsiones del frente de onda dinámicas de un sistema láser

WaveLight GmbH (100,0%)

N/D.

PCT/EP2009/008001 09/11/2009

WO11054367 12/05/2011

E09756255 09/11/2009

EP2499473 02/08/2017

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Instrumento de mapeo de características ópticas

Tomo 2 de Patentes y modelos de utilidad. de 17 de Julio de 2017.

5. solicitudes y patentes europeas con efectos en españa (real decreto 2424/1986) > Protección definitiva > Protección definitiva (capítulo v rd 2424/1986).

ES 2624809 T3

E 07789308 ( 9 )

29/08/2006 GB 0616974

G01J 9/00 (2006.01)

G01J 1/42 (2006.01)

Instrumento de mapeo de características ópticas

PowerPhotonic Ltd (100,0%)

N/D.

PCT/GB2007/003217 24/08/2007

WO08025958 06/03/2008

E07789308 24/08/2007

EP2074395 22/03/2017

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Dispositivo de control de la fase de un frente de onda óptico

Tomo 2 de Patentes y modelos de utilidad. de 10 de Julio de 2017.

5. solicitudes y patentes europeas con efectos en españa (real decreto 2424/1986) > Protección definitiva > Protección definitiva (capítulo v rd 2424/1986).

ES 2623093 T3

E 13814446 ( 4 )

30/11/2012 FR 1261491

G02B 5/18 (2006.01)

G02B 27/00 (2006.01)

G01J 9/00 (2006.01)

G02B 5/00 (2006.01)

G02B 27/58 (2006.01)

B82Y 20/00 (2011.01)

Dispositivo de control de la fase de un frente de onda óptico

Office National d'Etudes et de Recherches Aérospatiales (ONERA) (50,0%)

N/D.

PCT/EP2013/075167 29/11/2013

WO2014083182 05/06/2014

E13814446 29/11/2013

EP2926187 04/01/2017

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Dispositivo y procedimiento de medida de frente de onda

Tomo 2 de Patentes y modelos de utilidad. de 06 de Abril de 2016.

1. patentes > Resolución > Concesión > Concesión con examen previo (art. 40.1 lp).

Dispositivo y procedimiento de medida de frente de onda

ES 2458919 B2

P 201331086 ( 2 )

17-07-2013

07-05-2014

G01J 9/00 ( 2006.01)

Dispositivo y procedimiento de medida de frente de onda

UNIVERSIDADE DE SANTIAGO DE COMPOSTELA (100,0%)
Santiago de Compostela (A Coruña) ES

N/D.

Fecha de concesión: 30-03-2016

Aceptada la modificación de reivindicaciones aportadas en fecha 05-10-2015

La presente invención propone un nuevo procedimiento, dispositivo y producto de programa informático para la medida de frentes de onda. El procedimiento y dispositivo para la medida de un frente de onda objeto de la presente invención comprende la obtención de un sensor de frente de onda de apertura sintética. En dicho procedimiento y dispositivo, el sensor de frente de onda de apertura sintética comprende generar un patrón de muestreo sintético que se obtiene agrupando al menos dos patrones de muestreo diferentes. El procedimiento y dispositivo se emplean para la medida de frentes de onda, medida de aberraciones oculares, la caracterización de elementos ópticos, medida de distancias, caracterización de superficies, y para fines metrológicos.

Otras apariciones publicadas en el BOPI:

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