00' de la CIP.

SECCION G — FISICA > METROLOGÍA (cómputo G06M ); ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (separación de constituyentes de materiales en general B01D, B01J, B03, B07; aparatos enteramente previstos en una sola subclase, ver la subclase apropiada, p. ej. B01L; procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q; estudio de los suelos de cimentación in situ E02D 1/00; dispositivos de control o diagnóstico para los aparatos de tratamiento de gases de escape F01N 11/00; percepción de variaciones de humedad para compensar las medidas de otras variables o las lecturas de instrumentos que miden las variaciones de la humedad, ver G01D o la subclase apropiada a la variable medida; ensayo o determinación de las propiedades de estructuras G01M; medida o investigación de las propiedades eléctricas o magnéticas de materiales G01R; sistemas en general para determinar la distancia, la velocidad o la presencia utilizando efectos de propagación, p. ej. el efecto Doppler, el tiempo de propagación de ondas de radio reflejadas o reradiadas, u otras disposiciones analogas que utilicen otras ondas G01S; determinación de la sensibilidad, de la granularidad o de la densidad de materiales fotográficos G03C 5/02; ensayo de elementos que componen los reactores nucleares G21C 17/00) > Investigación o análisis de materiales por la utilización de radiaciones (ondas o partículas) no cubiertos por el grupo G01N 21/00 ó G01N 22/00, p. ej. rayos X, neutrones (G01N 3/00 - G01N 17/00 tienen prioridad; medida de fuerzas o tensiones en general G01L 1/00; medida de las radiaciones nucleares o de los rayos X G01T; introducción o retirada de objetos o de materiales en los reactores nucleares, o su almacenamiento después de tratamiento en los reactores G21C; aparatos de rayos X o circuitos para estos aparatos H05G)

transmitiendo la radiación a través del material.
utilizando la difracción de la radiación, p. ej. para investigar la estructura cristalina; utilizando la reflexión de la radiación.
midiendo la emisión secundaria.
y formando una imagen (microscopios electrónicos H01J).
utilizando neutrones.
y midiendo la absorción.
Utilización de medios de detección eléctricos.
consistiendo la radiación en rayos X (G01N 23/10 - G01N 23/18 tienen prioridad).
utilizando rayos X polienergéticos.
consistiendo la radiación en neutrones.
estando el material confinado en un recipiente (G01N 23/09 tiene prioridad).
siendo el material un líquido o un sólido granulado fluyente (G01N 23/09 tiene prioridad).
especialmente adaptado para operaciones de control o de Monitorización o para la señalización.
siendo el material una hoja móvil (G01N 23/09, G01N 23/18 tienen prioridad).
Investigación de la presencia de defectos o de inclusiones (G01N 23/09 tiene prioridad).
midiendo la difusión bajo un pequeño ángulo.
utilizando neutrones.
midiendo la retrodifusión.
utilizando neutrones.
por medio de cámaras de difracción (G01N 23/201 tiene prioridad).
consistiendo la radiación en neutrones.
por difractometría utilizando detectores, p. ej. utilizando un cristal de análisis o un cristal analizados en posición central con uno o varios detectores móviles dispuestos en círculo (G01N 23/201 tiene prioridad; espectrometría de la intensidad de la radiación detectada o medida G01T 1/36).
utilizando el análisis por activación.
utilizando neutrones.
irradiando la muestra con rayos X y midiendo la fluorescencia X.
utilizando una microsonda electrónica o iónica (tubos de haces electrónicos o iónicos para el análisis por microsonda H01J 37/00).
midiendo el efecto fotoeléctrico, p. ej. electrones Auger.