00' de la CIP.

SECCION G — FISICA > METROLOGÍA (cómputo G06M ); ENSAYOS > MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (medida de variables físicas de cualquier tipo por conversión en variables eléctricas, ver la Nota (4); que sigue al título de la clase G01; medida de la difusión de iones en un campo eléctrico, p. ej. electroforesis, electroósmosis, G01N; estudio de las propiedades no eléctricas o no magnéticas de los materiales utilizando métodos eléctricos o magnéticos G01N; indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12; monitorización de los contadores de impulsos electrónicos H03K 21/40; monitorización del funcionamiento de sistemas de transmisión H04) > Dispositivos para verificar propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizados por lo que es probado, no previstos en otro lugar (conductores para medida, sondas para medida G01R 1/06; indicación del estado eléctrico de los dispositivos de conmutación o protección H01H 71/04, H01H 73/12, H02B 11/10, H02H 3/04; ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; Ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46)

Paso sucesivo de artículos similares en los ensayos, p. ej. ensayo "va/no va" en una producción en serie; Ensayo de objetos en ciertos puntos cuando pasan a través de una estación de ensayos (G01R 31/18 tiene prioridad).
Ensayo de aparatos, de líneas, o de componentes eléctricos para detectar la presencia de cortocircuitos, discontinuidades, fugas o conexiones incorrectas de líneas.
Localización de defectos en los cables, líneas de transmisión o redes (circuitos de protección de seguridad H02H).
Ensayo de la rigidez dieléctrica o de la tensión de ruptura.
Ensayo de tubos de descarga (durante la fabricación H01J 9/42).
Ensayo de dispositivos individuales de semiconductores (medida del contenido en impurezas de los materiales G01N).
Ensayo de circuitos electrónicos, p. ej. con la ayuda de un trazador de señales (ensayo para descubrir la presencia de cortocircuitos, de discontinuidades, de fugas o de conexiones incorrectas de líneas G01R 31/02; ensayos de computadores G06F 11/00; comprobación del funcionamiento correcto de memorias estáticas o ensayo de memorias estáticas mientras operan en modo "standby" o "offline" G11C 29/00).
Ensayo de interruptores de circuito, de interruptores o de disyuntores (asociación estructural con interruptores H01H).
Ensayo de máquinas dinamoeléctricas (ensayo de bobinado eléctrico G01R 31/06; procedimientos o aparatos especialmente adaptados a la fabricación, montaje, mantenimiento o reparación de máquinas dinamoeléctricas H02K 15/00).
Aparatos para el ensayo del estado eléctrico de acumuladores o baterías, p. ej. de la capacidad o de las condiciones de carga (acumuladores combinados con dispositivos de medida, ensayo o indicación de estado H01M 10/48; circuitos para la carga o la depolarización de baterías o para alimentar cargas por baterías H02J 7/00).
Ensayo de bujías de encendido (ensayo de sus propiedades no eléctricas G01M 19/02).
Ensayo de fuentes de alimentación.
Ensayo de lámparas (lámparas de descarga G01R 31/24; disposiciones estructuralmente asociadas a los circuitos de la fuente de luz para la detección de los defectos de las lámparas H05B 37/03).
Ensayo de conexiones, p. ej. enchufes, juntas no desconectables.
Ensayo de bobinado eléctrico, p. ej. para determinar la polaridad (medida del número de espiras, de la relación de transformación o del factor de acoplamiento G01R 29/20).
Ensayo de fusibles (medios para indicar el estado del fusible estructuralmente asociados al fusible H01H 85/30).
aumentado la destrucción en el lugar del fallo, p. ej. combustión por medio de un generador de impulsos que aplican un programa especial.
utilizando métodos de reflexión de la impulsión.
Circuitos para este efecto.
Construcción de recipientes de ensayo; Electrodos para tales recipientes.
Paso a ensayo de artículos similares, p. ej. ensayos de control en una producción en serie.
Preparación de artículos o muestras para facilitar el ensayo.
Ensayo de tubos de vacío.
Ensayos sin contactos.
Ensayos de dispositivos sin extraerlos físicamente del circuito del que forman parte, p. ej. compensación de efectos debidos a los elementos circundantes.
Ensayos marginales, p. ej. haciendo variar la tensión de alimentación (ensayos marginales de computadores G06).
Ensayos sin contacto (sondas que no establecen contacto G01R 1/07).
de circuitos integrados (G01R 31/305 - G01R 31/315 tienen prioridad).
de circuitos impresos o híbridos (G01R 31/305 - G01R 31/315 tienen prioridad).
utilizando haces electrónicos.
de circuitos impresos o híbridos.
de circuitos integrados.
utilizando radiaciones electromagnéticas no ionizantes, p. ej. radiaciones ópticas.
de circuitos impresos o híbridos.
de circuitos integrados.
por métodos capacitivos.
por métodos inductivos.
Ensayos de circuitos analógicos.
Ensayos marginales.
Ensayos funcionales.
Ensayos de circuitos analógicos y digitales combinados.
Ensayo de circuitos digitales.
Ensayos marginales.
Ensayo del funcionamiento lógico, p. ej. por medio de analizadores lógicos.
Ensayos funcionales (G01R 31/3177 tiene prioridad).
Generación de señales de entrada de prueba, p. ej. vectores, formas o secuencias de ensayo.
Reconfiguración para los ensayos, p. ej. LSSD, divisiones.
Ensayos integrados.
Hardware de pruebas, es decir, circuitos de tratamiento de señales de salida.
con una comparación entre la respuesta real y la respuesta conocida en ausencia de error.
Ensayo de la capacidad de corte de los disyuntores de alta tensión (medios para detectar la presencia de un arco o de una descarga en los dispositivos de conmutación H01H 9/50, H01H 33/26).
de alimentación de corriente alterna.