00' de la CIP.

SECCION G — FISICA > CÓMPUTO; CÁLCULO; CONTEO (marcadores de tanteo computerizados para competiciones A63B 71/06, A63D 15/20, A63F 1/18; combinaciones de accesorios para escribir con dispositivos de cálculo B43K 29/08) > TRATAMIENTO DE DATOS DIGITALES ELECTRICOS (computadores en los que una parte del cálculo se efectúa hidráulica o neumáticamente G06D, ópticamente G06E; sistemas de computadores basados en modelos de cálculo específicos G06N; redes de impedancia que utilizan técnicas digitales H03H) > Detección de errores; Corrección de errores; Monitorización del funcionamiento (métodos o disposiciones para verificar la exactitud del marcado sobre un soporte de registro G06K 5/00; en el registro de información basado en un movimiento relativo entre el soporte de registro y el transductor G11B, p. ej. G11B 20/18; en las memorias estáticas G11C 29/00; codificación, decodificación o conversión de código para corregir o detectar errores en general H03M 13/00)

Respuesta ante la aparición de un defecto, p. ej. tolerancia ante fallos.
Detección o corrección de errores por introducción de redundancia en la representación de los datos, p. ej. utilizando códigos de control.
añadiendo cifras binarias o símbolos especiales a los datos expresados según un código, p. ej. control de paridad, exclusión de los 9 o de los 11.
Detección o corrección de errores en los datos por redundancia en las operaciones, p. ej. mediante la utilización de diversas secuencias de operaciones que conduzcan al mismo resultado (G06F 11/16 tiene prioridad).
Detección o corrección de errores en un dato por redundancia en el hardware.
utilizando un enmascaramiento pasivo del defecto de los circuitos redundantes, p. ej. por lógica combinatoria de los circuitos redundantes, por circuitos de decisión mayoritaria.
utilizando un enmascaramiento activo del defecto, p. ej. desconectando los elementos debilitados o insertando los elementos de recambio.
Detección o localización del hardware defectuoso de un computador efectuando tests durante las operaciones de espera o durante los tiempos muertos, p. ej. pruebas de arranque (pruebas de circuitos digitales, p. ej. de componentes separados de computador G01R 31/317).
Pruebas marginales.
Pruebas de funcionamiento lógico, p. ej. mediante analizadores lógicos.
Pruebas funcionales.
Generación de señales de entrada de prueba, p. ej. vectores, formas o secuencias de prueba.
Reconfiguración para pruebas, p. ej. LSSD, partición.
Pruebas incorporadas.
Hardware de pruebas, es decir circuitos de tratamiento de señales de salida.
verificando que el orden de tratamiento es correcto (G06F 11/07, G06F 11/22 tienen prioridad; control de la configuración de trenes de impulsos H03K 5/19).
Vigilancia del funcionamiento.
con indicación visual del funcionamiento de la máquina.
Registro o evaluación estática de la actividad del computador, p. ej. de las interrupciones o de las operaciones de entrada-salida.
Prevención de errores probando o depurando el software.
con comparación entre la respuesta efectiva y la respuesta conocida libre de error.