MÉTODO Y DISPOSITIVO PARA LA CARACTERIZACIÓN DE UNA INSTALACIÓN SOMETIDA A RADIACIÓN RADIOLÓGICA A PARTIR DE LAS MEDIDAS EFECTUADAS SOBRE UN ELEMENTO ESTRUCTURAL DE DICHA INSTALACIÓN.
P 200802199 ( 8 )
23-07-2008
N/D.
Otras apariciones publicadas en el BOPI:
- Tomo 2 del 23 de Febrero de 2011 1. patentes > Tramitación > Hasta la publicación del iet (art. 34.5 lp) > Publicación de la solicitud (art. 32.1 lp)
- Tomo 2 del 23 de Febrero de 2011 1. patentes > Tramitación > Hasta la publicación del iet (art. 34.5 lp) > Publicacion del informe sobre el estado de la tecnica (art. 34.5 lp)
- Tomo 2 del 07 de Julio de 2011 1. patentes > Tramitación > Procedimiento general de concesión > Reanudación procedimiento general de concesión (art. 36.3 lp)
- Tomo 2 del 04 de Octubre de 2011 1. patentes > Tramitación > Procedimiento general de concesión > Traslado de observaciones al informe sobre el estado de la técnica (art. 36.2 lp)
- Tomo 2 del 01 de Febrero de 2012 1. patentes > Resolución > Concesión > Concesión sin examen previo (art. 37.3 lp)