MODIFICACIÓN DE PUNTAS DE MICROSCOPÍA DE FUERZAS ATÓMICAS MEDIANTE DEPÓSITO DE NANOPARTÍCULAS CON UNA FUENTE DE AGREGADOS.
ES 2369943 A1
P 201030712 ( 7 )
13-05-2010
G01Q 60/42 ( 2010.01)
B82Y 15/00 ( 2011.01)
B82B 3/00 ( 2006.01)
MODIFICACIÓN DE PUNTAS DE MICROSCOPÍA DE FUERZAS ATÓMICAS MEDIANTE DEPÓSITO DE NANOPARTÍCULAS CON UNA FUENTE DE AGREGADOS.
N/D.
N/D.
Modificación de puntas de Microscopía de Fuerzas Atómicas mediante depósito de nanopartículas con una fuente de agregados.
La presente invención se refiere a un procedimiento para recubrir puntas de AFM (Atomic Force Microscopy, microscopio de fuerzas atómicas) mediante el depósito de un material en forma de nanopartículas con una fuente de agregados.
Otras apariciones publicadas en el BOPI:
- Tomo 2 del 23 de Febrero de 2011 1. patentes > Tramitación > Hasta la publicación del iet (art. 34.5 lp) > Continuación de procedimiento (art. 31.5 lp)
- Tomo 2 del 09 de Diciembre de 2011 1. patentes > Tramitación > Hasta la publicación del iet (art. 34.5 lp) > Publicacion del informe sobre el estado de la tecnica (art. 34.5 lp)
- Tomo 2 del 19 de Abril de 2012 1. patentes > Tramitación > Procedimiento general de concesión > Reanudación procedimiento general de concesión (art. 36.3 lp)
- Tomo 2 del 16 de Julio de 2012 1. patentes > Tramitación > Procedimiento general de concesión > Traslado de observaciones al informe sobre el estado de la técnica (art. 36.2 lp)
- Tomo 2 del 15 de Octubre de 2012 1. patentes > Resolución > Concesión > Concesión sin examen previo (art. 37.3 lp)