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Nanoparticulas de AG2S súper fluorescentes en la región del infrarrojo cercano y metódo de obtención

ES 2773946 A1

P 201900006 ( 7 )

15/01/2019

G01N 21/64 (2006.01)

C01B 17/20 (2006.01)

C01G 5/00 (2006.01)

B82Y 40/00 (2011.01)

B82Y 30/00 (2011.01)

B82Y 15/00 (2011.01)

Nanoparticulas de AG2S súper fluorescentes en la región del infrarrojo cercano y metódo de obtención

UNIVERSIDAD AUTÓNOMA DE MADRID (50,0%)

Nanopartículas de Ag 2 S súper fluorescentes en la región del infrarrojo cercano y método de obtención.
El marcaje con sondas fluorescentes juega un papel importante en los estudios a nivel celular y tisular tanto en investigación biomédica como en estudios in vivo. Las sondas de partículas de Ag 2 S presentan la ventaja de baja o nula toxicidad, a la vez que exhiben fluorescencia en el infrarrojo cercano. Pero las sondas de Ag 2 S presentan el inconveniente detener una baja eficiencia cuántica (alrededor de un 0,2 %).
La presente invención describe nanopartículas de Ag 2 S capaces de emitir en el infrarrojo cercano con una eficiencia cuántica del 10% (lo que supone un incremento de 50 veces con respecto a la eficacia de las nanopartículas obtenidas hasta el momento) así como su método de síntesis, el cual es un método sencillo que da lugar a partículas estables coloidalmente y que pueden ser funcionalizadas superficialmente.

Nanopartículas de Ag 2 S súper fluorescentes en la región del infrarrojo cercano y método de obtención.
El marcaje con sondas fluorescentes juega un papel importante en los estudios a nivel celular y tisular tanto en investigación biomédica como en estudios in vivo. Las sondas de partículas de Ag 2 S presentan la ventaja de baja o nula toxicidad, a la vez que exhiben fluorescencia en el infrarrojo cercano. Pero las sondas de Ag 2 S presentan el inconveniente detener una baja eficiencia cuántica (alrededor de un 0,2 %).
La presente invención describe nanopartículas de Ag 2 S capaces de emitir en el infrarrojo cercano con una eficiencia cuántica del 10% (lo que supone un incremento de 50 veces con respecto a la eficacia de las nanopartículas obtenidas hasta el momento) así como su método de síntesis, el cual es un método sencillo que da lugar a partículas estables coloidalmente y que pueden ser funcionalizadas superficialmente.

Jerarquías de la CIP 2006:
  • C SECCION C — QUIMICA; METALURGIA.
  • C01 QUIMICA INORGANICA (tratamiento de polvos de compuestos inorgánicos previamente a la fabricación de productos cerámicos C04B 35/00; procesos de fermentación o procesos que utilizan enzimas para la preparación de elementos o de compuestos inorgánicos excepto anhídrido carbónico C12P 3/00; obtención a partir de mezclas, p. ej. a partir de minerales, de compuestos metálicos que son los compuestos intermedios de un proceso metalúrgico para la obtención de un metal libre C21B, C22B; producción de elementos no metálicos o de compuestos inorgánicos por electrólisis o electroforesis C25B).
  • C01B ELEMENTOS NO METALICOS; SUS COMPUESTOS.
  • C01B 17/00 Azufre; Sus compuestos.
  • C01B 17/20 Métodos para preparar sulfuros o polisulfuros en general (sulfuros o polisulfuros de amonio C01C; sulfuros o polisulfuros de metales, diferentes a los metales alcalinos, magnesio, calcio, estroncio y bario, ver los grupos relevantes de las subclases C01F o C01G, de acuerdo con el metal).
  • C01G COMPUESTOS QUE CONTIENEN METALES NO CUBIERTOS POR LAS SUBCLASES C01D O C01F (hidruros metálicos C01B 6/00; sales de los oxácidos de los halógenos C01B 11/00; peróxidos, sales de los perácidos C01B 15/00; tiosulfatos, ditionitos, politionatos C01B 17/64; compuestos que contienen selenio o teluro C01B 19/00; compuestos binarios del nitrógeno con metales C01B 21/06; azidas C01B 21/08; amidas metálicas C01B 21/092; nitritos C01B 21/50; fosfuros C01B 25/08; sales de los oxácidos del fósforo C01B 25/16; carburos C01B 31/30; compuestos que contienen silicio C01B 33/00; compuestos que contienen boro C01B 35/00; compuestos que tienen propiedades de tamices moleculares pero que no tienen propiedades de cambiadores de base C01B 37/00; compuestos que tienen propiedades de tamices moleculares y de cambiadores de base, p. ej. zeolitas cristalinas, C01B 39/00; cianuros C01C 3/08; sales del ácido ciánico C01C 3/14; sales de cianamida C01C 3/16; tiocianatos C01C 3/20).
  • C01G 5/00 Compuestos de plata.
  • G SECCION G — FISICA.
  • G01 METROLOGÍA (cómputo G06M ); ENSAYOS.
  • G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (separación de constituyentes de materiales en general B01D, B01J, B03, B07; aparatos enteramente previstos en una sola subclase, ver la subclase apropiada, p. ej. B01L; procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q; estudio de los suelos de cimentación in situ E02D 1/00; dispositivos de control o diagnóstico para los aparatos de tratamiento de gases de escape F01N 11/00; percepción de variaciones de humedad para compensar las medidas de otras variables o las lecturas de instrumentos que miden las variaciones de la humedad, ver G01D o la subclase apropiada a la variable medida; ensayo o determinación de las propiedades de estructuras G01M; medida o investigación de las propiedades eléctricas o magnéticas de materiales G01R; sistemas en general para determinar la distancia, la velocidad o la presencia utilizando efectos de propagación, p. ej. el efecto Doppler, el tiempo de propagación de ondas de radio reflejadas o reradiadas, u otras disposiciones analogas que utilicen otras ondas G01S; determinación de la sensibilidad, de la granularidad o de la densidad de materiales fotográficos G03C 5/02; ensayo de elementos que componen los reactores nucleares G21C 17/00).
  • G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad; medida de tensiones en general G01L 1/00; elementos ópticos de instrumentos de medida G02B; análisis de imágenes mediante el tratamiento de datos G06T).
  • G01N 21/64 Fluorescencia; Fosforescencia.

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Sistema de control de uso de armas en zonas restringidas

Sistema de control de uso de armas en zonas restringidas

ES 2773932 A1

P 201930021 ( 4 )

15/01/2019

F41A 17/06 (2006.01)

F41A 17/08 (2006.01)

F41H 13/00 (2006.01)

Sistema de control de uso de armas en zonas restringidas

N/D.

N/D.

Sistema de control de uso de armas en zonas restringidas, basado en la detección de que un usuario esté empuñando un arma y tenga o no el dedo sobre el gatillo, mediante el reconocimiento del usuario por la emisión de un haz de luz que es interrumpido o reflejado por el objeto a detectar, validando si es usuario autorizado a portar el arma mediante el emparejamiento de su lector al correspondiente chip único del usuario, al objeto de no aplicar las medidas disuasorias en la propia arma. El sistema incorpora en la referida arma la comunicación con el usuario e incluso la posibilidad de disuadirle con una descarga eléctrica de que continúe empuñándola, en función de que sea un usuario previamente no autorizado para utilizar el arma o las restricciones de uso que pueda haber en la zona a proteger.

Sistema de control de uso de armas en zonas restringidas, basado en la detección de que un usuario esté empuñando un arma y tenga o no el dedo sobre el gatillo, mediante el reconocimiento del usuario por la emisión de un haz de luz que es interrumpido o reflejado por el objeto a detectar, validando si es usuario autorizado a portar el arma mediante el emparejamiento de su lector al correspondiente chip único del usuario, al objeto de no aplicar las medidas disuasorias en la propia arma. El sistema incorpora en la referida arma la comunicación con el usuario e incluso la posibilidad de disuadirle con una descarga eléctrica de que continúe empuñándola, en función de que sea un usuario previamente no autorizado para utilizar el arma o las restricciones de uso que pueda haber en la zona a proteger.

Jerarquías de la CIP 2006:
  • F SECCION F — MECANICA; ILUMINACION; CALEFACCION; ARMAMENTO; VOLADURA.
  • F41 ARMAS.
  • F41A CARACTERISTICAS DE FUNCIONAMIENTO O DETALLES COMUNES A LA VEZ A LAS ARMAS DE FUEGO INDIVIDUALES Y A LAS PIEZAS DE ARTILLERIA, p. ej. CAÑONES; MONTAJE DE LAS ARMAS DE FUEGO INDIVIDUALES O DE LAS PIEZAS DE ARTILLERIA.
  • F41A 17/00 Mecanismos de seguridad, p. ej. seguros.
  • F41A 17/06 Seguros eléctricos o electromecánicos (F41A 17/04, F41A 17/08 tienen prioridad).
  • F41A 17/08 para impedir el disparo en una dirección predeterminada, p. ej. el disparo a una persona amiga o a un área protegida (F41A 27/02 tiene prioridad).
  • F41H BLINDAJE; TORRETAS ACORAZADAS; VEHICULOS BLINDADOS O ARMADOS; MEDIOS DE ATAQUE O DE DEFENSA, p. ej. ENMASCARAMIENTO, EN GENERAL.
  • F41H 13/00 Medios de ataque o de defensa no previstos en otra parte.

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PROCEDIMIENTO DE OBTENCIÓN DE RECUBRIMIENTOS CERÁMICOS DE ZIRCONATO-TITANATO DE PLOMO (PZT)

PROCEDIMIENTO DE OBTENCIÓN DE RECUBRIMIENTOS CERÁMICOS DE ZIRCONATO-TITANATO DE...

ES 2773935 A1

P 202090026 ( 2 )

22/12/2017

B41M 1/28 (2006.01)

C09D 11/03 (2014.01)

H01L 41/187 (2006.01)

H01L 41/314 (2013.01)

PROCEDIMIENTO DE OBTENCIÓN DE RECUBRIMIENTOS CERÁMICOS DE ZIRCONATO-TITANATO DE PLOMO (PZT)

ASOCIACIÓN CENTRO TECNOLÓGICO CEIT-IK4 (100,0%)
Nacionalidad: ES
Pº de Manuel Lardizábal, 15
SAN SEBASTIAN (Gipuzkoa) ES
Código Postal: 20018

N/D.

N/D.

Se remite a la solicitud internacional PCT/ES2017/070843

Procedimiento de obtención de recubrimientos cerámicos de zirconato-titanato de plomo (PZT) que comprende las etapas de obtener una tinta de PZT, depositar sobre un sustrato la tinta de PZT, sinterizar la tinta de PZT mediante un tratamiento con láser, y someter al sustrato con la tinta de PZT sinterizada a un proceso de polarización.

Procedimiento de obtención de recubrimientos cerámicos de zirconato-titanato de plomo (PZT) que comprende las etapas de obtener una tinta de PZT, depositar sobre un sustrato la tinta de PZT, sinterizar la tinta de PZT mediante un tratamiento con láser, y someter al sustrato con la tinta de PZT sinterizada a un proceso de polarización.

Procedimiento de obtención de recubrimientos cerámicos de zirconato-titanato de plomo (PZT) que comprende las etapas de obtener una tinta de PZT, depositar sobre un sustrato la tinta de PZT, sinterizar la tinta de PZT mediante un tratamiento con láser, y someter al sustrato con la tinta de PZT sinterizada a un proceso de polarización.

Jerarquías de la CIP 2006:
  • B SECCION B — TECNICAS INDUSTRIALES DIVERSAS; TRANSPORTES.
  • B41 IMPRENTA; MAQUINAS COMPONEDORAS DE LINEAS; MAQUINAS DE ESCRIBIR; SELLOS (reproducción de imágenes o diseños por exploración y conversión en señales eléctricas H04N).
  • B41M PROCESOS DE IMPRESION, DE REPRODUCCION, DE MARCADO O COPIADO; IMPRESION EN COLOR (corrección de errores tipográficos B41J; procedimientos para aplicar imágenes transferencia o similares B44C 1/16; productos fluidos para corregir errores tipográficos C09D 10/00; impresión de textiles D06P).
  • B41M 1/00 Entintado o impresión con una forma de impresión.
  • B41M 1/28 sobre metales.
  • H SECCION H — ELECTRICIDAD.
  • H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS.
  • H01L DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES; DISPOSITIVOS ELECTRICOS DE ESTADO SOLIDO NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR (sistemas transportadores para obleas semiconductoras B65G 49/07; empleo de dispositivos semiconductores para medir G01; detalles de aparatos con sonda de barrido, en general G12B 21/00; resistencias en general H01C; imanes, inductancias, transformadores H01F; condensadores en general H01G; dispositivos electrolíticos H01G 9/00; pilas, acumuladores H01M; guías de ondas, resonadores o líneas del tipo guía de ondas H01P; conectadores de líneas, colectores de corriente H01R; dispositivos de emisión estimulada H01S; resonadores electromecánicos H03H; transductores electromecánicos para comunicaciones eléctricas H04R; fuentes de luz eléctrica en general H05B; circuitos impresos, circuitos híbridos, envolturas o detalles de construcción de aparatos eléctricos, fabricación de conjuntos de componentes eléctricos H05K; empleo de dispositivos semiconductores en circuitos que tienen una aplicación particular, ver la subclase relativa a la aplicación).
  • H01L 41/00 Elementos piezoeléctricos en general; Elementos electroestrictivos en general; Elementos magnetoestrictivos en general; Procedimientos o aparatos especialmente adaptados a la fabricación o tratamiento de estos dispositivos, o de sus partes constitutivas; Detalles (dispositivos consistentes en una pluralidad de componentes de estado sólido formados en o sobre un sustrato común H01L 27/00).
  • H01L 41/187 Composiciones cerámicas.

Otras apariciones publicadas en el BOPI: Tomo 2 del 15 de Julio de 2020 1. patentes > Tramitación > Hasta la publicación del iet > Publicación de la mención al informe de búsqueda internacional (art. 31.6 rp).

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