MICROSCOPIO PARA MEDIDAS CUANTITATIVAS DEL FRENTE DE ONDA, MÓDULO Y KIT PARA MICROSCOPIO, MÉTODO Y PROGRAMA DE ORDENADOR PARA LA RECONSTRUCCIÓN COMPUTACIONAL DEL FRENTE DE ONDA

Tomo 2 de Patentes y modelos de utilidad. de 17 de Agosto de 2020.

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MICROSCOPIO PARA MEDIDAS CUANTITATIVAS DEL FRENTE DE ONDA, MÓDULO Y KIT PARA MICROSCOPIO,...

ES 2779500 A1

P 201930116 ( 4 )

15/02/2019

G01J 9/00 (2006.01)

G02B 21/36 (2006.01)

MICROSCOPIO PARA MEDIDAS CUANTITATIVAS DEL FRENTE DE ONDA, MÓDULO Y KIT PARA MICROSCOPIO, MÉTODO Y PROGRAMA DE ORDENADOR PARA LA RECONSTRUCCIÓN COMPUTACIONAL DEL FRENTE DE ONDA

UNIVERSITAT DE VALÈNCIA (100,0%)

N/D.

La presente invención concierne a un microscopio para medidas cuantitativas del frente de onda, que comprende:
- medios para iluminar una muestra (T);
- un objetivo (2);
- una disposición bidimensional ordenada de lentes (3) con un espaciado p μ superior a 500 μm y una apertura relativa inferior a 10;
- un sensor de imagen (4) situado en un espacio de captura (Ec) para recibir la luz dispersada por la muestra (T), y adquirir información espacial e información angular del frente de onda objeto asociado a la misma; y
- una entidad computacional para realizar una reconstrucción computacional del frente de onda objeto a partir de las informaciones espacial y angular.
Otros aspectos dela invención conciernen a un método, un programa de ordenador y un producto que lo incluye, adaptados para realizar las funciones de la entidad computacional del microscopio, así como a un módulo y un kit para microscopio.

La presente invención concierne a un microscopio para medidas cuantitativas del frente de onda, que comprende:
- medios para iluminar una muestra (T);
- un objetivo (2);
- una disposición bidimensional ordenada de lentes (3) con un espaciado p μ superior a 500 μm y una apertura relativa inferior a 10;
- un sensor de imagen (4) situado en un espacio de captura (Ec) para recibir la luz dispersada por la muestra (T), y adquirir información espacial e información angular del frente de onda objeto asociado a la misma; y
- una entidad computacional para realizar una reconstrucción computacional del frente de onda objeto a partir de las informaciones espacial y angular.
Otros aspectos dela invención conciernen a un método, un programa de ordenador y un producto que lo incluye, adaptados para realizar las funciones de la entidad computacional del microscopio, así como a un módulo y un kit para microscopio.

Jerarquías de la CIP 2006:
  • G SECCION G — FISICA.
  • G01 METROLOGÍA (cómputo G06M ); ENSAYOS.
  • G01J MEDIDA DE LA INTENSIDAD, DE LA VELOCIDAD, DEL ESPECTRO, DE LA POLARIZACION, DE LA FASE O DE CARACTERISTICAS DE IMPULSOS DE LA LUZ INFRARROJA, VISIBLE O ULTRAVIOLETA; COLORIMETRIA; PIROMETRIA DE RADIACIONES (fuentes luminosas F21, H01J, H01K, H05B; investigación de las propiedades de los materiales por medios ópticos G01N).
  • G01J 9/00 Medida del desfase de rayos luminosos (dispositivos o sistemas para el control de la fase de rayos luminosos G02F 1/01 ); Investigación del grado de coherencia; Medida óptica de la longitud de onda (espectrometría G01J 3/00).
  • G02 OPTICA (fabricación de elementos o de aparatos ópticos B24B, B29D 11/00, C03, u otras subclases o clases apropiadas; materiales en sí , ver los lugares apropiados, p. ej. C03B, C03C).
  • G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para colgar las dispositivas, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84).
  • G02B 21/00 Microscopios (oculares G02B 25/00; sistemas polarizantes G02B 27/28; microscopios de medida G01B 9/04; micrótomos G01N 1/06; investigación o análisis de la estructura a escala atómica de una superficie utilizando técnicas de barrido con sonda, p. ej. técnicas que emplean microscopios de barrido de efecto túnel o de campo cercano G01N 13/10; detalles de aparatos con sonda de barrido, en general G12B 21/00).
  • G02B 21/36 dispuestos para la fotografía o la proyección (G02B 21/18 tiene prioridad).

Otras apariciones publicadas en el BOPI: Tomo 2 del 17 de Agosto de 2020 1. patentes > Tramitación > Hasta la publicación del iet > Publicación del informe sobre el estado de la técnica (art. 37 lp).